您现在的位置:主页 > 商业 >

HoloLens新专利可以检测传感器组件上的灰尘、污迹等异物

来源: 互联网 发布时间:2019-02-01 点击:

对于依赖深度传感器来感知周遭环境的AR或VR而言,相关光学组件容易遭受诸如灰尘,碎屑或指纹污迹等异物的影响,从而降低其精度,并导致深度映射的失真。为了解决这个问题,微软提交了一份名为“Microsoft Patent | Foreign substance detection in a depth sensing system(微软专利:深度传感系统的外来物质检测)”的专利。

根据美国专利及商标局日前正式公布的文件,这项发明是专门用于深度传感系统的外来物质检测。微软写道:“专利描述了一种用于在深度感测系统检测外来物质的设备和方法。在一个实施例中,深度感测设备包括用于发光的光源,图像传感器和处理器。”

这家科技巨头进一步解释了具体的工作原理:“图像传感器通过光学组件接收环境反射光。图像传感器同时生成深度映射,后者包括对应于深度感测设备和环境之间距离的多个像素值。由于光学组件存在异物,处理器检测深度映射的模糊部分。处理器同时可以输出光学组件存在异物的用户警报。”

具体来说,处理器可以根据中间深度像素的总数是否超过阈值来判读深度映射是否模糊。更具体来说,处理器可以在深度映射中检测由外来物质光散射引起的多个中间深度像素。中间深度像素的值是对应于小于环境背景深度并大于环境前景深度的深度,然后处理器根据中间深度像素的总数是否超过阈值数来判断深度映射是否因外来物质影响而出现模糊。

相关专利:Microsoft Patent | Foreign substance detection in a depth sensing system

需要注意的是,这只是一份专利,尚不确定微软将于何时商业化相关技术。

原文链接:https://yivian.com/news/56028.html

来源:映维网



这篇有关于 HoloLens新专利可以检测传感器组件上的灰尘、污迹等异物 的文章,就为您介绍到这里,希望它对您有帮助。如果您喜欢这篇文章,请分享给您的好友。

    相关阅读